Comparison of Large Area and Lumped Element Field-Effect Transistors for Broadband Detection of Terahertz

Typ des Eintrags:	Konferenzveröffentlichung
Erschienen:	2017
Autor(en):	Regensburger, Stefan ; Lu, Hong ; Gossard, Arthur C. ; Preu, Sascha
Art des Eintrags:	Bibliographie
Titel:	Comparison of Large Area and Lumped Element Field-Effect Transistors for Broadband Detection of Terahertz
Sprache:	Englisch
Publikationsjahr:	28 August 2017
Veranstaltungstitel:	IRMMW-THz 2017
Veranstaltungsort:	Cancun, Mexiko
Veranstaltungsdatum:	28.08.2017-28.08.2017
DOI:	10.1109/IRMMW-THz.2017.8066960
URL / URN:	http://www.tsys.tu-darmstadt.de/media/tss/texte/IRMMW-THz201...
Zugehörige Links:	https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2017.8...
Fachbereich(e)/-gebiet(e):	18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > THz Bauelemente und THz Systeme 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Terahertz Systems
Hinterlegungsdatum:	17 Okt 2017 15:22
Letzte Änderung:	10 Dez 2021 07:13
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