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Automatic transfer of parametric FEMmodels into CAD-layout formats for top-down design of microsystems

Lang, Markus ; Davidov, D. ; Glesner, Manfred (1997)
Automatic transfer of parametric FEMmodels into CAD-layout formats for top-down design of microsystems.
Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97. Paris, France (1997)
doi: 10.1109/EDTC.1997.582359
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1997
Autor(en): Lang, Markus ; Davidov, D. ; Glesner, Manfred
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Automatic transfer of parametric FEMmodels into CAD-layout formats for top-down design of microsystems
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1997
Verlag: IEEE
Buchtitel: Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97, Paris, France, 1997
Veranstaltungstitel: Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97
Veranstaltungsort: Paris, France
Veranstaltungsdatum: 1997
DOI: 10.1109/EDTC.1997.582359
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Letzte Änderung: 11 Okt 2023 11:26
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