| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
1997 |
| Autor(en): |
Lang, Markus ; Davidov, D. ; Glesner, Manfred |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Automatic transfer of parametric FEMmodels into CAD-layout formats for top-down design of microsystems |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
1997 |
| Verlag: |
IEEE |
| Buchtitel: |
Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97, Paris, France, 1997 |
| Veranstaltungstitel: |
Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97 |
| Veranstaltungsort: |
Paris, France |
| Veranstaltungsdatum: |
17.03.1997-20.03.1997 |
| DOI: |
10.1109/EDTC.1997.582359 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: |
16 Mai 2024 12:12 |
| PPN: |
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| Export: |
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