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Effiziente Validierung stochastischer Sensitivitätsanalysen an smarten Systemen

Ochs, Steffen ; Li, Sushan ; Slomski, Elena M. ; Melz, Tobias :
Effiziente Validierung stochastischer Sensitivitätsanalysen an smarten Systemen.
In: 4SMARTS; Symposium für Smarte Strukturen und Systeme, 6.–7. April 2016, Darmstadt.
[ Konferenzveröffentlichung] , (2016)

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung ( nicht bekannt)
Erschienen: 2016
Autor(en): Ochs, Steffen ; Li, Sushan ; Slomski, Elena M. ; Melz, Tobias
Titel: Effiziente Validierung stochastischer Sensitivitätsanalysen an smarten Systemen
Sprache: Deutsch
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 16 Fachbereich Maschinenbau
16 Fachbereich Maschinenbau > Fachgebiet Systemzuverlässigkeit, Adaptronik und Maschinenakustik (SAM)
Veranstaltungstitel: 4SMARTS; Symposium für Smarte Strukturen und Systeme
Veranstaltungsort: Darmstadt
Veranstaltungsdatum: 6.–7. April 2016
Hinterlegungsdatum: 11 Apr 2016 12:04
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