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Advanced Electromagnetic Field Analysis for High Quality Beams

Weiland, Thomas ; Schuhmann, Rolf (2002)
Advanced Electromagnetic Field Analysis for High Quality Beams.
International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics -Proceedings of the 10th International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2002
Autor(en): Weiland, Thomas ; Schuhmann, Rolf
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Advanced Electromagnetic Field Analysis for High Quality Beams
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 2002
(Heft-)Nummer: 4
Band einer Reihe: 14
Veranstaltungstitel: International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics -Proceedings of the 10th International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics
Zusätzliche Informationen:

TEMF-Pub-DB TEMF000365

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder (ab 01.01.2019 umbenannt in Institut für Teilchenbeschleunigung und Theorie Elektromagnetische Felder)
Hinterlegungsdatum: 14 Mär 2016 16:41
Letzte Änderung: 03 Jun 2018 21:27
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