Serwatzy, C. ; Abraham, M. ; Drews, D. ; Ehrfeld, W. ; Mayr, K. ; Noell, W. ; Marti, O. ; Hollricher, O. ; Hahne, Peter ; Ehmann, Ralf
Hrsg.: Hasche, Klaus (1997)
Numerical Simulations and Microfabrication of a Multifunctional AFM-SNOM-Sensor.
2nd Seminar on Quantitative Microscopy: geometrical measurements in the micro- and nanometre range with far and near field methods. Wien, Austria (06.11.1997-07.11.1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Herausgeber: | Hasche, Klaus |
| Autor(en): | Serwatzy, C. ; Abraham, M. ; Drews, D. ; Ehrfeld, W. ; Mayr, K. ; Noell, W. ; Marti, O. ; Hollricher, O. ; Hahne, Peter ; Ehmann, Ralf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Numerical Simulations and Microfabrication of a Multifunctional AFM-SNOM-Sensor |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Ort: | Bremerhaven |
| Verlag: | Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wissenschaften |
| Buchtitel: | Proceedings of the 2nd Seminar on Quantitative Microscopy: geometrical measurements in the micro- and nanometre range with far and near field methods, on 6th and 7th November 1997 in Wien, Austria |
| Reihe: | PTB-Bericht F |
| Band einer Reihe: | 30 |
| Veranstaltungstitel: | 2nd Seminar on Quantitative Microscopy: geometrical measurements in the micro- and nanometre range with far and near field methods |
| Veranstaltungsort: | Wien, Austria |
| Veranstaltungsdatum: | 06.11.1997-07.11.1997 |
| Zusätzliche Informationen: | TEMF-Pub-DB TEMF000253 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder (ab 01.01.2019 umbenannt in Institut für Teilchenbeschleunigung und Theorie Elektromagnetische Felder) |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Mär 2016 16:31 |
| Letzte Änderung: | 01 Feb 2024 12:13 |
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