Richter, M. H. ; Lichterman, M. F. ; Hu, S. ; Crumlin, E. J. ; Mayer, T. ; Axnanda, S. ; Favaro, M. ; Drisdell, W. ; Hussain, Z. ; Brunschwig, B. ; Lewis, N. S. ; Liu, Z. ; Lewerenz, H. J. (2015)
Measurement of the Energy-Band Relations of Stabilized Si Photoanodes Using Operando Ambient Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy.
In: ECS Transactions, 66 (6)
doi: 10.1149/06606.0105ecst
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2015 |
| Autor(en): | Richter, M. H. ; Lichterman, M. F. ; Hu, S. ; Crumlin, E. J. ; Mayer, T. ; Axnanda, S. ; Favaro, M. ; Drisdell, W. ; Hussain, Z. ; Brunschwig, B. ; Lewis, N. S. ; Liu, Z. ; Lewerenz, H. J. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Measurement of the Energy-Band Relations of Stabilized Si Photoanodes Using Operando Ambient Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2015 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | ECS Transactions |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 66 |
| (Heft-)Nummer: | 6 |
| DOI: | 10.1149/06606.0105ecst |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 07 Feb 2016 14:29 |
| Letzte Änderung: | 07 Feb 2016 14:29 |
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