Lichterman, Michael F. ; Hu, Shu ; Richter, Matthias H. ; Crumlin, Ethan J. ; Axnanda, Stephanus ; Favaro, Marco ; Drisdell, Walter ; Hussain, Zahid ; Mayer, Thomas ; Brunschwig, Bruce S. ; Lewis, Nathan S. ; Liu, Zhi ; Lewerenz, Hans-Joachim (2015)
Direct observation of the energetics at a semiconductor/liquid junction by operando X-ray photoelectron spectroscopy.
In: Energy Environ. Sci., 8 (8)
doi: 10.1039/c5ee01014d
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2015 |
| Autor(en): | Lichterman, Michael F. ; Hu, Shu ; Richter, Matthias H. ; Crumlin, Ethan J. ; Axnanda, Stephanus ; Favaro, Marco ; Drisdell, Walter ; Hussain, Zahid ; Mayer, Thomas ; Brunschwig, Bruce S. ; Lewis, Nathan S. ; Liu, Zhi ; Lewerenz, Hans-Joachim |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Direct observation of the energetics at a semiconductor/liquid junction by operando X-ray photoelectron spectroscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2015 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Energy Environ. Sci. |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 8 |
| (Heft-)Nummer: | 8 |
| DOI: | 10.1039/c5ee01014d |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 07 Feb 2016 14:33 |
| Letzte Änderung: | 07 Feb 2016 14:33 |
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