Tselev, Alexander ; Klein, Andreas ; Gassmann, Jürgen ; Jesse, Stephen ; Li, Qian ; Kalinin, Sergei V. ; Balke, Nina (2015)
Quantitative Nanometer-Scale Mapping of Dielectric Tunability.
In: Advanced Materials Interfaces, 2 (15)
doi: 10.1002/admi.201500088
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Two scanning probe microscopy techniques—near-fi eld scanning microwave microscopy (SMM) and piezoresponse force microscopy (PFM)—are used to characterize and image tunability in a thin (Ba,Sr)TiO 3 film with nanometer scale spatial resolution. While sMIM allows direct probing of tunability by measurement of the change in the dielectric constant, in PFM, tunability can be extracted via electrostrictive response. The near-field microwave imaging and PFM provide similar information about dielectric tunability with PFM capable to deliver quantitative information on tunability with a higher spatial resolution close to 15 nm. This is the fi rst time, information about the dielectric tunability is available on such length scales.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2015 |
| Autor(en): | Tselev, Alexander ; Klein, Andreas ; Gassmann, Jürgen ; Jesse, Stephen ; Li, Qian ; Kalinin, Sergei V. ; Balke, Nina |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Quantitative Nanometer-Scale Mapping of Dielectric Tunability |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2015 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Advanced Materials Interfaces |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 2 |
| (Heft-)Nummer: | 15 |
| DOI: | 10.1002/admi.201500088 |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Two scanning probe microscopy techniques—near-fi eld scanning microwave microscopy (SMM) and piezoresponse force microscopy (PFM)—are used to characterize and image tunability in a thin (Ba,Sr)TiO 3 film with nanometer scale spatial resolution. While sMIM allows direct probing of tunability by measurement of the change in the dielectric constant, in PFM, tunability can be extracted via electrostrictive response. The near-field microwave imaging and PFM provide similar information about dielectric tunability with PFM capable to deliver quantitative information on tunability with a higher spatial resolution close to 15 nm. This is the fi rst time, information about the dielectric tunability is available on such length scales. |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung > Teilprojekt B7:Polarisation und Ladung in elektrisch ermüdeten Ferroelektrika Zentrale Einrichtungen DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) |
| Hinterlegungsdatum: | 15 Nov 2015 15:17 |
| Letzte Änderung: | 15 Nov 2015 15:17 |
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