Siepchen, B. ; Schimper, H.-J. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2013)
SXPS studies of single crystalline CdTe/CdS interfaces.
In: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 190
doi: 10.1016/j.elspec.2013.05.004
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Siepchen, B. ; Schimper, H.-J. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | SXPS studies of single crystalline CdTe/CdS interfaces |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | Oktober 2013 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 190 |
| DOI: | 10.1016/j.elspec.2013.05.004 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 28 Mär 2015 16:17 |
| Letzte Änderung: | 28 Mär 2015 16:17 |
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