Liu, G. ; Schulmeyer, T. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2003)
In situ preparation and interface characterization of TiO2/Cu2S heterointerface.
In: Applied Physics Letters, 82 (14)
doi: 10.1063/1.1565507
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
---|---|
Erschienen: | 2003 |
Autor(en): | Liu, G. ; Schulmeyer, T. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | In situ preparation and interface characterization of TiO2/Cu2S heterointerface |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | April 2003 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 82 |
(Heft-)Nummer: | 14 |
DOI: | 10.1063/1.1565507 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
Hinterlegungsdatum: | 11 Mär 2015 22:49 |
Letzte Änderung: | 11 Mär 2015 22:49 |
PPN: | |
Export: | |
Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen |