Liu, G. ; Schulmeyer, T. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. (2003)
In situ preparation and interface characterization of TiO2/Cu2S heterointerface.
In: Applied Physics Letters, 82 (14)
doi: 10.1063/1.1565507
Artikel, Bibliographie
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| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2003 |
| Autor(en): | Liu, G. ; Schulmeyer, T. ; Thißen, A. ; Klein, Andreas ; Jaegermann, W. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | In situ preparation and interface characterization of TiO2/Cu2S heterointerface |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | April 2003 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 82 |
| (Heft-)Nummer: | 14 |
| DOI: | 10.1063/1.1565507 |
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| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 11 Mär 2015 22:49 |
| Letzte Änderung: | 03 Jul 2024 02:22 |
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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In situ preparation and interface characterization of TiO₂/Cu₂S heterointerface. (deposited 11 Nov 2021 13:25)
- In situ preparation and interface characterization of TiO2/Cu2S heterointerface. (deposited 11 Mär 2015 22:49) [Gegenwärtig angezeigt]
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