Dilfer, Stefan ; Hoffmann, Rudolf C. ; Doersam, Edgar (2014)
Characteristics of flexographic printed indium-zinc-oxide thin films as an active semiconductor layer in thin film field-effect transistors.
In: Applied Surface Science, 320
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2014 |
| Autor(en): | Dilfer, Stefan ; Hoffmann, Rudolf C. ; Doersam, Edgar |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Characteristics of flexographic printed indium-zinc-oxide thin films as an active semiconductor layer in thin film field-effect transistors |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 2014 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Surface Science |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 320 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI) Zentrale Einrichtungen Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Jan 2015 16:01 |
| Letzte Änderung: | 20 Jan 2015 16:01 |
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