Xu, Bai-Xiang ; Müller, Ralf ; Schrade, David ; Gross, Dietmar (2009)
Simulation of domain structures in cracked ferroelectric materials.
In: PAMM — Proceedings in Applied Mathematics and Mechanics, 9 (1)
doi: 10.1002/pamm.200910071
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
The domain structure around a crack tip plays a significant role in the fracture behavior of ferroelectrics. A continuum phase field model is used to investigate the microstructure at the crack front. The concept of the Eshelby momentum tensor and configurational forces is then generalized to account for the contributions of the polarization term. Implementation of the generalized configurational force in the Finite Element code enables us to numerically obtain the driving force at the crack tip, which corresponds to the crack-tip energy release rate. Calculations show that additional positive electric fields tend to prohibit crack growth, whereas additional negative electric fields tend to promote crack growth. (© 2009 Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2009 |
Autor(en): | Xu, Bai-Xiang ; Müller, Ralf ; Schrade, David ; Gross, Dietmar |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Simulation of domain structures in cracked ferroelectric materials |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 2009 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | PAMM — Proceedings in Applied Mathematics and Mechanics |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 9 |
(Heft-)Nummer: | 1 |
DOI: | 10.1002/pamm.200910071 |
URL / URN: | https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1002/pamm.2009100... |
Kurzbeschreibung (Abstract): | The domain structure around a crack tip plays a significant role in the fracture behavior of ferroelectrics. A continuum phase field model is used to investigate the microstructure at the crack front. The concept of the Eshelby momentum tensor and configurational forces is then generalized to account for the contributions of the polarization term. Implementation of the generalized configurational force in the Finite Element code enables us to numerically obtain the driving force at the crack tip, which corresponds to the crack-tip energy release rate. Calculations show that additional positive electric fields tend to prohibit crack growth, whereas additional negative electric fields tend to promote crack growth. (© 2009 Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim) |
Zusätzliche Informationen: | SFB 595 C3 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften 13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften > Fachgebiete der Mechanik 13 Fachbereich Bau- und Umweltingenieurwissenschaften > Fachgebiete der Mechanik > Fachgebiet Kontinuumsmechanik DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche Zentrale Einrichtungen DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > C - Modellierung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > C - Modellierung > Teilprojekt C3: Mikroskopische Untersuchungen zur Defektagglomeration und deren Auswirkungen auf die Beweglichkeit von Domänenwänden |
Hinterlegungsdatum: | 23 Okt 2014 15:50 |
Letzte Änderung: | 26 Jan 2024 09:21 |
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