Stein, Peter ; Zhao, Ying ; Xu, Bai-Xiang (2013)
An analytical solution for the mechanically coupled diffusion problem in thin-film electrodes.
In: Proc. Appl. Math. Mech., 13 (1)
doi: 10.1002/pamm.201310114
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
This paper presents a quasi-static solution for the mechanically coupled diffusion problem in a Lithium-ion battery thin film electrode during charge. The concentration field and the stresses are calculated under the assumption of a constant flux. The influence of the electrode's stiffness, its thickness, and of the current density on the results are discussed.
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2013 |
Autor(en): | Stein, Peter ; Zhao, Ying ; Xu, Bai-Xiang |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | An analytical solution for the mechanically coupled diffusion problem in thin-film electrodes |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | Dezember 2013 |
Verlag: | Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Proc. Appl. Math. Mech. |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 13 |
(Heft-)Nummer: | 1 |
DOI: | 10.1002/pamm.201310114 |
Kurzbeschreibung (Abstract): | This paper presents a quasi-static solution for the mechanically coupled diffusion problem in a Lithium-ion battery thin film electrode during charge. The concentration field and the stresses are calculated under the assumption of a constant flux. The influence of the electrode's stiffness, its thickness, and of the current density on the results are discussed. |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Mechanik Funktionaler Materialien Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen > Graduate School of Computational Engineering (CE) Zentrale Einrichtungen |
Hinterlegungsdatum: | 20 Mär 2014 12:23 |
Letzte Änderung: | 26 Jan 2024 09:21 |
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