Guerrero, Pablo E. ; Gurov, Iliya ; Buchmann, Alejandro ; Laerhoven, Kristof Van (2012)
Diagnosing the Weakest Link in WSN Testbeds: A Reliability and Cost Analysis of the USB Backchannel.
7th IEEE International Workshop on Practical Issues in Building Sensor Network Applications.
doi: 10.1109/LCNW.2012.6424085
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
This paper highlights and characterizes the main obstacle to deploying a robust wireless sensor network testbed: the USB connections that link each of the nodes via ethernet gateways to the central server. Unfortunately, these connections are also the
Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
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Erschienen: | 2012 |
Autor(en): | Guerrero, Pablo E. ; Gurov, Iliya ; Buchmann, Alejandro ; Laerhoven, Kristof Van |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Diagnosing the Weakest Link in WSN Testbeds: A Reliability and Cost Analysis of the USB Backchannel |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | Oktober 2012 |
Verlag: | IEEE |
Veranstaltungstitel: | 7th IEEE International Workshop on Practical Issues in Building Sensor Network Applications |
DOI: | 10.1109/LCNW.2012.6424085 |
Kurzbeschreibung (Abstract): | This paper highlights and characterizes the main obstacle to deploying a robust wireless sensor network testbed: the USB connections that link each of the nodes via ethernet gateways to the central server. Unfortunately, these connections are also the |
Freie Schlagworte: | experimentation; testbeds; reliability; node reprogramming; universal serial bus |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 20 Fachbereich Informatik 20 Fachbereich Informatik > Datenbanken und Verteilte Systeme |
Hinterlegungsdatum: | 03 Mär 2014 15:36 |
Letzte Änderung: | 05 Aug 2021 13:35 |
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