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Diagnosing the Weakest Link in WSN Testbeds: A Reliability and Cost Analysis of the USB Backchannel

Guerrero, Pablo E. ; Gurov, Iliya ; Buchmann, Alejandro ; Laerhoven, Kristof Van (2012)
Diagnosing the Weakest Link in WSN Testbeds: A Reliability and Cost Analysis of the USB Backchannel.
7th IEEE International Workshop on Practical Issues in Building Sensor Network Applications.
doi: 10.1109/LCNW.2012.6424085
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

This paper highlights and characterizes the main obstacle to deploying a robust wireless sensor network testbed: the USB connections that link each of the nodes via ethernet gateways to the central server. Unfortunately, these connections are also the

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2012
Autor(en): Guerrero, Pablo E. ; Gurov, Iliya ; Buchmann, Alejandro ; Laerhoven, Kristof Van
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Diagnosing the Weakest Link in WSN Testbeds: A Reliability and Cost Analysis of the USB Backchannel
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Oktober 2012
Verlag: IEEE
Veranstaltungstitel: 7th IEEE International Workshop on Practical Issues in Building Sensor Network Applications
DOI: 10.1109/LCNW.2012.6424085
Kurzbeschreibung (Abstract):

This paper highlights and characterizes the main obstacle to deploying a robust wireless sensor network testbed: the USB connections that link each of the nodes via ethernet gateways to the central server. Unfortunately, these connections are also the

Freie Schlagworte: experimentation; testbeds; reliability; node reprogramming; universal serial bus
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 20 Fachbereich Informatik
20 Fachbereich Informatik > Datenbanken und Verteilte Systeme
Hinterlegungsdatum: 03 Mär 2014 15:36
Letzte Änderung: 05 Aug 2021 13:35
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