Bornemann, Nils ; Dörsam, Edgar (2013)
A flatbed scanner for large-area thickness determination of ultra-thin layers in printed electronics.
In: Optics Express, 21 (19)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1364/oe.21.021897
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Bornemann, Nils ; Dörsam, Edgar |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A flatbed scanner for large-area thickness determination of ultra-thin layers in printed electronics |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | September 2013 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Optics Express |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 21 |
| (Heft-)Nummer: | 19 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1364/oe.21.021897 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster Zentrale Einrichtungen Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI) |
| Hinterlegungsdatum: | 11 Sep 2013 08:07 |
| Letzte Änderung: | 21 Mär 2019 11:55 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum