Seggern, Heinz von (1978)
Influence of measurement inaccuracy on the charge distribution evaluated with the thermal-pulse method.
In: 1978 Annual Report: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1978 |
| Autor(en): | Seggern, Heinz von |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Influence of measurement inaccuracy on the charge distribution evaluated with the thermal-pulse method |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1978 |
| Verlag: | National Academy of Sciences, Office of Publications |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | 1978 Annual Report: Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena |
| Zusätzliche Informationen: | Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, 47th annual meeting, Pocono Manor, Pennsylvania, USA, Oct. 30 - Nov. 2, 1978 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Elektronische Materialeigenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 13 Jun 2013 07:14 |
| Letzte Änderung: | 13 Aug 2021 14:08 |
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