Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; Le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick (2013)
Highly Precise Taint Analysis for Android Applications.
Report, Bibliographie
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Typ des Eintrags: | Report | ||||||
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Erschienen: | 2013 | ||||||
Autor(en): | Fritz, Christian ; Arzt, Steven ; Rasthofer, Siegfried ; Bodden, Eric ; Bartel, Alexandre ; Klein, Jacques ; Le Traon, Yves ; Octeau, Damien ; McDaniel, Patrick | ||||||
Art des Eintrags: | Bibliographie | ||||||
Titel: | Highly Precise Taint Analysis for Android Applications | ||||||
Sprache: | Englisch | ||||||
Publikationsjahr: | 8 Mai 2013 | ||||||
Zugehörige Links: | |||||||
Schlagworte: |
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ID-Nummer: | TUD-CS-2013-0113 | ||||||
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 20 Fachbereich Informatik LOEWE LOEWE > LOEWE-Zentren Zentrale Einrichtungen LOEWE > LOEWE-Zentren > CASED – Center for Advanced Security Research Darmstadt 20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE 20 Fachbereich Informatik > EC SPRIDE > Secure Software Engineering |
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Hinterlegungsdatum: | 16 Mai 2013 07:27 | ||||||
Letzte Änderung: | 20 Jun 2024 05:34 | ||||||
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Verfügbare Versionen dieses Eintrags
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Highly Precise Taint Analysis for Android Applications. (deposited 13 Mai 2013 13:59)
- Highly Precise Taint Analysis for Android Applications. (deposited 16 Mai 2013 07:27) [Gegenwärtig angezeigt]
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