Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred (2013)
Improved contact resistivity and intra-die variation in organic thin film transistors.
In: Applied Physics Letters, 102 (17)
Artikel, Bibliographie
URL / URN: http://dx.doi.org/10.1063/1.4804239
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2013 |
| Autor(en): | Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Sauer, Hans Martin ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Improved contact resistivity and intra-die variation in organic thin film transistors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | April 2013 |
| Verlag: | American Institute of Physics (AIP) |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 102 |
| (Heft-)Nummer: | 17 |
| URL / URN: | http://dx.doi.org/10.1063/1.4804239 |
| ID-Nummer: | 173303 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster Zentrale Einrichtungen Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI) |
| Hinterlegungsdatum: | 14 Mai 2013 07:20 |
| Letzte Änderung: | 11 Feb 2019 11:47 |
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