Sun, L. ; Wang, J. J. ; Bonaccurso, E. (2010)
Nanoelectronic properties of a model system and of a conjugated polymer: A study by Kelvin probe force microscopy and scanning conductive torsion mode microscopy.
In: J. Phys. Chem. C , 114
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Sun, L. ; Wang, J. J. ; Bonaccurso, E. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Nanoelectronic properties of a model system and of a conjugated polymer: A study by Kelvin probe force microscopy and scanning conductive torsion mode microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2010 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | J. Phys. Chem. C |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 114 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Zentrale Einrichtungen nicht bekannt Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster > Center of Smart Interfaces (CSI) ?? fb99_csi~fg7 ?? Exzellenzinitiative Exzellenzinitiative > Exzellenzcluster |
| Hinterlegungsdatum: | 11 Mär 2013 13:11 |
| Letzte Änderung: | 11 Mär 2013 13:11 |
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