Łukasik, J. ; Adrich, P. ; Aumann, T. ; Bacri, C. O. ; Barczyk, T. ; Bassini, R. ; Bianchin, S. ; Boiano, C. ; Botvina, A. S. ; Boudard, A. ; Brzychczyk, J. ; Chbihi, A. ; Cibor, J. ; Czech, B. ; Ducret, J.-É. ; Emling, H. ; Frankland, J. ; Hellström, M. ; Henzlova, D. ; Immè, G. ; Iori, I. ; Johansson, H. ; Kezzar, K. ; Lafriakh, A. ; Le Fèvre, A. ; Le Gentil, E. ; Leifels, Y. ; Lühning, J. ; Lynch, W. G. ; Lynen, U. ; Majka, Z. ; Mocko, M. ; Müller, W. F. J. ; Mykulyak, A. ; De Napoli, M. ; Orth, H. ; Otte, A. N. ; Palit, R. ; Pawłowski, P. ; Pullia, A. ; Raciti, G. ; Rapisarda, E. ; Sann, H. ; Schwarz, C. ; Sfienti, C. ; Simon, H. ; Sümmerer, K. ; Trautmann, W. ; Tsang, M. B. ; Verde, G. ; Volant, C. ; Wallace, M. ; Weick, H. ; Wiechula, J. ; Wieloch, A. ; Zwiegliński, B. (2008)
Discriminant analysis and secondary-beam charge recognition.
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 587 (2-3)
doi: 10.1016/j.nima.2008.01.071
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