Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred (2012)
Variation of electrical parameters of organic thin film transistors as a function of semiconductors layer thickness.
2nd Winter School of Organic Electronics. Heidelberg, Germany (March 5, 2012)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2012 |
| Autor(en): | Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Variation of electrical parameters of organic thin film transistors as a function of semiconductors layer thickness |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2012 |
| Veranstaltungstitel: | 2nd Winter School of Organic Electronics |
| Veranstaltungsort: | Heidelberg, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | March 5, 2012 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) 16 Fachbereich Maschinenbau |
| Hinterlegungsdatum: | 25 Apr 2012 18:21 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 10:00 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum