Hawraneck, Matthias ; Zimmer, Jürgen ; Raberg, Wolfgang ; Prügl, Klemens ; Schmitt, Stephan ; Bever, Thomas ; Flege, Stefan ; Alff, Lambert (2008)
Diffusion based degradation mechanisms in giant magnetoresistive spin valves.
In: Applied Physics Letters, 93 (1)
doi: 10.1063/1.2956394
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Spin valve systems based on the giant magnetoresistive effect as used, for example, in hard disks and automotive applications consist of several functional metallic thin film layers. We have identified by secondary ion mass spectrometry two main degradation mechanisms: one is related to oxygen diffusion through a protective cap layer and the other one is interdiffusion directly at the functional layers of the giant magnetoresistive stack. By choosing a suitable material as cap layer (TaN), the oxidation effect can be suppressed.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2008 |
| Autor(en): | Hawraneck, Matthias ; Zimmer, Jürgen ; Raberg, Wolfgang ; Prügl, Klemens ; Schmitt, Stephan ; Bever, Thomas ; Flege, Stefan ; Alff, Lambert |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Diffusion based degradation mechanisms in giant magnetoresistive spin valves |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 9 Juli 2008 |
| Verlag: | American Institute of Physics |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 93 |
| (Heft-)Nummer: | 1 |
| DOI: | 10.1063/1.2956394 |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Spin valve systems based on the giant magnetoresistive effect as used, for example, in hard disks and automotive applications consist of several functional metallic thin film layers. We have identified by secondary ion mass spectrometry two main degradation mechanisms: one is related to oxygen diffusion through a protective cap layer and the other one is interdiffusion directly at the functional layers of the giant magnetoresistive stack. By choosing a suitable material as cap layer (TaN), the oxidation effect can be suppressed. |
| Freie Schlagworte: | chemical interdiffusion, magnetic thin films, magnetoresistance, metallic thin films, oxidation, secondary ion mass spectra, spin valves, tantalum, tantalum compounds |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Dünne Schichten 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 29 Mär 2012 10:56 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 10:00 |
| PPN: | |
| Sponsoren: | This work was supported by the BMBF Project No. 13N9084. |
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