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Röntgenreflektometrie und Ionenstrahlmischen an Ohmschen Kontakten auf GaAs

Pirling, Thilo :
Röntgenreflektometrie und Ionenstrahlmischen an Ohmschen Kontakten auf GaAs.
Technische Univ. Darmstadt , Darmstadt
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 1995
Autor(en): Pirling, Thilo
Titel: Röntgenreflektometrie und Ionenstrahlmischen an Ohmschen Kontakten auf GaAs
Sprache: Deutsch
Ort: Darmstadt
Verlag: Technische Univ. Darmstadt
Edition: Darmstadt: 1995. 138 S.
Kollation: 138 S.
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:54
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