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Characterization and impedance matching of new high sensitive planar Schottky detector diodes

Hoefle, Matthias ; Schneider, Katharina ; Penirschke, Andreas ; Cojocari, Oleg ; Jakoby, Rolf (2011)
Characterization and impedance matching of new high sensitive planar Schottky detector diodes.
German Microwave Conference (GeMIC) 2011.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

New high sensitive zero-bias Schottky detector diodes with low junction capacitance and differential resistance are characterized by applying DC and S-parameter measurements in W-band. The extracted parameters provide an accurate RF model for circuit simulations to design and realize an impedance matching network at 90 GHz to avoid standing waves in a diode detector as an essential part of high sensitive direct detection receivers.

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2011
Autor(en): Hoefle, Matthias ; Schneider, Katharina ; Penirschke, Andreas ; Cojocari, Oleg ; Jakoby, Rolf
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Characterization and impedance matching of new high sensitive planar Schottky detector diodes
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: März 2011
Veranstaltungstitel: German Microwave Conference (GeMIC) 2011
Kurzbeschreibung (Abstract):

New high sensitive zero-bias Schottky detector diodes with low junction capacitance and differential resistance are characterized by applying DC and S-parameter measurements in W-band. The extracted parameters provide an accurate RF model for circuit simulations to design and realize an impedance matching network at 90 GHz to avoid standing waves in a diode detector as an essential part of high sensitive direct detection receivers.

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP) > Mikrowellentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Mikrowellentechnik und Photonik (IMP)
Hinterlegungsdatum: 27 Jan 2012 15:20
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:58
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