Groh, Michael (1988)
Zweidimensionale Koordinatennormierung.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
In der Literatur finden sich mehrere Verfahren zur Verarbeitung von 2-dim. Bilddaten. Es wurden diejenigen überprüft, die sich bei Systemen mit geringer Auflösung anwenden lassen (Greiferbacke mit 256 Mikroschaltern in 16x16-Matrix angeordnet). Auswahlkriterien waren geringer Rechen- und Speicheraufwand, da ein Einplatinenrechner eingesetzt werden soll.
Grundidee der Arbeit ist es, das ertastete Muster aus der zufälligen Position im Greifer an einen bestimmten Koordinatenort zu verschieben und in eine definierte Lage zu drehen. Eine 2-dim. Transformation in eine gleichgroße Matrix erwies sich wegen der geringen Auflösung als nicht sinnvoll. In dem Originalmuster läßt sich als Bezugspunkt der Schwerpunkt durch ein Zentrierverfahen ermitteln. Um ihn wird eine Winkelabstandstransformation der Konturpunkte durchgeführt. Weiterhin wird eine Konturcodierung des Musters vorgenommen.
Aus diesen beiden Datensätzen und dem Originalmuster werden Merkmalvektoren extrahiert. Diese bilden den Merkmalraum zur Klassifizierung. Die Größe des Merkmalraumes kann der Anzahl und der Form der Objekte angepasst werden, sodaß eine schnelle und sichere Erkennung möglich ist. Eine statistische Auswertung zeigt, daß sich 24 verschiedene Figuren durch sequentiellen Vergleich einiger Merkmale unterscheiden lassen. Die Klassifizierung von Kreis, Quadrat und Sechseck wird wegen der geringen Auflösung der Greifermatrix für verschiedene Positionen nur durch zweimaliges Greifen eindeutig.
Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
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Erschienen: | 1988 |
Autor(en): | Groh, Michael |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Zweidimensionale Koordinatennormierung |
Sprache: | Deutsch |
Referenten: | Rienmüller, Dipl.-Ing. Thomas ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz |
Publikationsjahr: | 30 November 1988 |
Zugehörige Links: | |
Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: In der Literatur finden sich mehrere Verfahren zur Verarbeitung von 2-dim. Bilddaten. Es wurden diejenigen überprüft, die sich bei Systemen mit geringer Auflösung anwenden lassen (Greiferbacke mit 256 Mikroschaltern in 16x16-Matrix angeordnet). Auswahlkriterien waren geringer Rechen- und Speicheraufwand, da ein Einplatinenrechner eingesetzt werden soll. Grundidee der Arbeit ist es, das ertastete Muster aus der zufälligen Position im Greifer an einen bestimmten Koordinatenort zu verschieben und in eine definierte Lage zu drehen. Eine 2-dim. Transformation in eine gleichgroße Matrix erwies sich wegen der geringen Auflösung als nicht sinnvoll. In dem Originalmuster läßt sich als Bezugspunkt der Schwerpunkt durch ein Zentrierverfahen ermitteln. Um ihn wird eine Winkelabstandstransformation der Konturpunkte durchgeführt. Weiterhin wird eine Konturcodierung des Musters vorgenommen. Aus diesen beiden Datensätzen und dem Originalmuster werden Merkmalvektoren extrahiert. Diese bilden den Merkmalraum zur Klassifizierung. Die Größe des Merkmalraumes kann der Anzahl und der Form der Objekte angepasst werden, sodaß eine schnelle und sichere Erkennung möglich ist. Eine statistische Auswertung zeigt, daß sich 24 verschiedene Figuren durch sequentiellen Vergleich einiger Merkmale unterscheiden lassen. Die Klassifizierung von Kreis, Quadrat und Sechseck wird wegen der geringen Auflösung der Greifermatrix für verschiedene Positionen nur durch zweimaliges Greifen eindeutig. |
Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Koordinatentransformation, Merkmalextraktion, Merkmalklassifizierung, Merkmalvektor, Mustererkennung, Sensormatrix |
ID-Nummer: | 17/24 EMKS 735 |
Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 735 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 17-11-1986 Ende Datum: 30-11-1988 Querverweis: 17/24 EMKD 740 Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK) Abschluss: Diplom (EMK) |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) |
Hinterlegungsdatum: | 07 Nov 2011 13:54 |
Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:55 |
PPN: | |
Referenten: | Rienmüller, Dipl.-Ing. Thomas ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz |
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