Li, Ying ; Pfeiffer, Thomas ; Nuffer, Jürgen (2011)
Sensitivitätsanalyse zur Identifizierung kritischer Einflussgrößen auf die Zuverlässigkeit adaptiver Systeme.
TTZ 2011: 25. Tagung Technische Zuverlässigkeit. Leonberg bei Stuttgart (11.05.2011-12.05.2011)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2011 |
| Autor(en): | Li, Ying ; Pfeiffer, Thomas ; Nuffer, Jürgen |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Sensitivitätsanalyse zur Identifizierung kritischer Einflussgrößen auf die Zuverlässigkeit adaptiver Systeme |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 12 Mai 2011 |
| Veranstaltungstitel: | TTZ 2011: 25. Tagung Technische Zuverlässigkeit |
| Veranstaltungsort: | Leonberg bei Stuttgart |
| Veranstaltungsdatum: | 11.05.2011-12.05.2011 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau 16 Fachbereich Maschinenbau > Fachgebiet Systemzuverlässigkeit, Adaptronik und Maschinenakustik (SAM) |
| Hinterlegungsdatum: | 12 Okt 2011 13:43 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:55 |
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