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Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines

Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy :
Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines.
In: Lecture Notes in Computer Science (LNCS) , 6981 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2011)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2011
Autor(en): Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy
Titel: Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines
Sprache: Englisch
Buchtitel: Proceedings of the ACM/IEEE 14th International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems (MoDELS)
Reihe: Lecture Notes in Computer Science (LNCS)
Band: 6981
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme
20 Fachbereich Informatik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
Hinterlegungsdatum: 22 Aug 2011 16:22
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