Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy
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Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines.
In: Lecture Notes in Computer Science (LNCS)
, 6981
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[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2011)
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
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| Erschienen: | 2011 |
| Autor(en): | Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy |
| Titel: | Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines |
| Sprache: | Englisch |
| Buchtitel: | Proceedings of the ACM/IEEE 14th International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems (MoDELS) |
| Reihe: | Lecture Notes in Computer Science (LNCS) |
| Band: | 6981 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 20 Fachbereich Informatik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 22 Aug 2011 16:22 |
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