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Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines

Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy (2011)
Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2011
Autor(en): Cichos, Harald ; Oster, Sebastian ; Lochau, Malte ; Schürr, Andy
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Model-based Coverage-Driven Test Suite Generation for Software Product Lines
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 21 August 2011
Buchtitel: Proceedings of the ACM/IEEE 14th International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems (MoDELS)
Reihe: Lecture Notes in Computer Science (LNCS)
Band einer Reihe: 6981
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme
20 Fachbereich Informatik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
Hinterlegungsdatum: 22 Aug 2011 16:22
Letzte Änderung: 21 Sep 2016 11:17
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