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Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren

Trautmann, Michael (2001):
Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren.
Technische Universität Darmstadt, [Seminar paper (Midterm)]

Abstract

Zusammenfassung:

Zur Ansteuerung und Auswertung von Wheatstoneschen Meßbrücken, wie sie auf modernen Drucksensoren eingesetzt werden, bieten eine Reihe von Herstellern ASICs (Application Specified Integrated Circuits) an. Auf diesen ICs sind in der Regel ein Instrumentenverstärker, eine Referenzspannungsquelle, sowie eine Ausgangsverstärkerstufe und gegebenenfalls ein Spannungs-Stromwandler integriert.

Die von den Herstellern angegebenen Kenndaten und Übertragungseigenschaften dieser ICs basieren allerdings auf unterschiedlichen z.T. unbekannten Voraussetzungen, wodurch ein Vergleich dieser Bauteile anhand der Daten erschwert bzw. unmöglich wird. Um eine unabhängige und einheitliche Vergleichsbasis zu schaffen und eine vergleichbare Aussage über die Eigenschaften dieser ASICs treffen zu können, wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit ein Meßplatz entwickelt.

Von besonderen Interesse ist bei diesen Bausteinen die Temperaturabhängigkeit und die damit verbundene Änderung der Kenngrößen wie z.B. des Verstärkungsfaktors. Deshalb werden die Messungen mit Hilfe eines Klimaschrankes in einem Temperaturbereich von -10°C bis +80°C durchgeführt. Das ganze Meßverfahren ist automatisiert und wird zentral von einem Computer gesteuert. Die verwendete Steuerung wurde unter Labview programmiert.

Item Type: Seminar paper (Midterm)
Erschienen: 2001
Creators: Trautmann, Michael
Title: Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren
Language: German
Abstract:

Zusammenfassung:

Zur Ansteuerung und Auswertung von Wheatstoneschen Meßbrücken, wie sie auf modernen Drucksensoren eingesetzt werden, bieten eine Reihe von Herstellern ASICs (Application Specified Integrated Circuits) an. Auf diesen ICs sind in der Regel ein Instrumentenverstärker, eine Referenzspannungsquelle, sowie eine Ausgangsverstärkerstufe und gegebenenfalls ein Spannungs-Stromwandler integriert.

Die von den Herstellern angegebenen Kenndaten und Übertragungseigenschaften dieser ICs basieren allerdings auf unterschiedlichen z.T. unbekannten Voraussetzungen, wodurch ein Vergleich dieser Bauteile anhand der Daten erschwert bzw. unmöglich wird. Um eine unabhängige und einheitliche Vergleichsbasis zu schaffen und eine vergleichbare Aussage über die Eigenschaften dieser ASICs treffen zu können, wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit ein Meßplatz entwickelt.

Von besonderen Interesse ist bei diesen Bausteinen die Temperaturabhängigkeit und die damit verbundene Änderung der Kenngrößen wie z.B. des Verstärkungsfaktors. Deshalb werden die Messungen mit Hilfe eines Klimaschrankes in einem Temperaturbereich von -10°C bis +80°C durchgeführt. Das ganze Meßverfahren ist automatisiert und wird zentral von einem Computer gesteuert. Die verwendete Steuerung wurde unter Labview programmiert.

Uncontrolled Keywords: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Fehler systematisch, Fehlerübertragungsmodel, Linearitätsfehler, Messablaufsteuerung, Offsetfehler, Primärelektronik, Steuerung mit LabView
Divisions: 18 Department of Electrical Engineering and Information Technology
18 Department of Electrical Engineering and Information Technology > Institute for Electromechanical Design
18 Department of Electrical Engineering and Information Technology > Institute for Electromechanical Design > Measurement and Sensor Technology
Date Deposited: 08 Sep 2011 10:16
Additional Information:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1476

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 24-05-2000

Ende Datum: 09-03-2001

Querverweis: Projektseminar 18.282.4.3 W98, 17/24 EMKS 1422, 17/24 EMKD 1433

Studiengang: Elektrotechnik und Informationstechnik (ETiT)

Vertiefungsrichtung: Mikro- und Feinwerktechnik (MFT)

Abschluss: Diplom (MFT)

Identification Number: 17/24 EMKS 1476
Referees: Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten and Werthschützky, Prof. Dr.- Roland
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