Trautmann, Michael (2001)
Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
Zur Ansteuerung und Auswertung von Wheatstoneschen Meßbrücken, wie sie auf modernen Drucksensoren eingesetzt werden, bieten eine Reihe von Herstellern ASICs (Application Specified Integrated Circuits) an. Auf diesen ICs sind in der Regel ein Instrumentenverstärker, eine Referenzspannungsquelle, sowie eine Ausgangsverstärkerstufe und gegebenenfalls ein Spannungs-Stromwandler integriert.
Die von den Herstellern angegebenen Kenndaten und Übertragungseigenschaften dieser ICs basieren allerdings auf unterschiedlichen z.T. unbekannten Voraussetzungen, wodurch ein Vergleich dieser Bauteile anhand der Daten erschwert bzw. unmöglich wird. Um eine unabhängige und einheitliche Vergleichsbasis zu schaffen und eine vergleichbare Aussage über die Eigenschaften dieser ASICs treffen zu können, wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit ein Meßplatz entwickelt.
Von besonderen Interesse ist bei diesen Bausteinen die Temperaturabhängigkeit und die damit verbundene Änderung der Kenngrößen wie z.B. des Verstärkungsfaktors. Deshalb werden die Messungen mit Hilfe eines Klimaschrankes in einem Temperaturbereich von -10°C bis +80°C durchgeführt. Das ganze Meßverfahren ist automatisiert und wird zentral von einem Computer gesteuert. Die verwendete Steuerung wurde unter Labview programmiert.
| Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 2001 |
| Autor(en): | Trautmann, Michael |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten ; Werthschützky, Prof. Dr.- Roland |
| Publikationsjahr: | 9 März 2001 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: Zur Ansteuerung und Auswertung von Wheatstoneschen Meßbrücken, wie sie auf modernen Drucksensoren eingesetzt werden, bieten eine Reihe von Herstellern ASICs (Application Specified Integrated Circuits) an. Auf diesen ICs sind in der Regel ein Instrumentenverstärker, eine Referenzspannungsquelle, sowie eine Ausgangsverstärkerstufe und gegebenenfalls ein Spannungs-Stromwandler integriert. Die von den Herstellern angegebenen Kenndaten und Übertragungseigenschaften dieser ICs basieren allerdings auf unterschiedlichen z.T. unbekannten Voraussetzungen, wodurch ein Vergleich dieser Bauteile anhand der Daten erschwert bzw. unmöglich wird. Um eine unabhängige und einheitliche Vergleichsbasis zu schaffen und eine vergleichbare Aussage über die Eigenschaften dieser ASICs treffen zu können, wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit ein Meßplatz entwickelt. Von besonderen Interesse ist bei diesen Bausteinen die Temperaturabhängigkeit und die damit verbundene Änderung der Kenngrößen wie z.B. des Verstärkungsfaktors. Deshalb werden die Messungen mit Hilfe eines Klimaschrankes in einem Temperaturbereich von -10°C bis +80°C durchgeführt. Das ganze Meßverfahren ist automatisiert und wird zentral von einem Computer gesteuert. Die verwendete Steuerung wurde unter Labview programmiert. |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Fehler systematisch, Fehlerübertragungsmodel, Linearitätsfehler, Messablaufsteuerung, Offsetfehler, Primärelektronik, Steuerung mit LabView |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKS 1476 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1476 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 24-05-2000 Ende Datum: 09-03-2001 Querverweis: Projektseminar 18.282.4.3 W98, 17/24 EMKS 1422, 17/24 EMKD 1433 Studiengang: Elektrotechnik und Informationstechnik (ETiT) Vertiefungsrichtung: Mikro- und Feinwerktechnik (MFT) Abschluss: Diplom (MFT) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mess- und Sensortechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 08 Sep 2011 10:16 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:53 |
| PPN: | |
| Referenten: | Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten ; Werthschützky, Prof. Dr.- Roland |
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