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Einfluss des Meßregimes auf die Bestimmung von Kennwerten integrierter Verstärker

Müller, Ralf (1999):
Einfluss des Meßregimes auf die Bestimmung von Kennwerten integrierter Verstärker.
Technische Universität Darmstadt, [Seminar paper (Midterm)]

Abstract

Zusammenfassung:

Die Eigenschaften integrierter Verstärker, im folgenden Primärelektronik genannt, werden in Datenblättern anhand von Kennwerten beschrieben. Jeder Kennwert beschreibt eine ganz bestimmte Eigenschaft der Elektronik. Das resultierende Verhalten im praktischen Einsatz bleibt jedoch teilweise unklar.

Eine andere Möglichkeit besteht in der Beschreibung durch algebraische Funktionen, die das Übertragungsverhalten der Primärelektronik mathematisch darstellen. Die Funktionen werden aus Meßwerten bestimmt. Die Aufnahme dieser Meßwerte kann nach verschiedenen Vorschriften (Meßregimen) erfolgen. Der Einfluß des Meßregimes auf die Bestimmung der Koeffizienten bzw. der Kennwerte der Primärelektronik soll in dieser Arbeit bestimmt werden.

In der praktischen Anwendung ändern sich die Eingangsgrößen (Meßgröße und Störgrößen) zufällig und zeitgleich. Bei der Vermessung einer Primärelektronik können die Eingangsgrößen auch determiniert und nacheinander verändert werden, um so einzelne Kennwerte bestimmen zu können. Durch Variation der Veränderung der Eingangsgrößen sind verschiedene Meßregime denkbar, welche mehr oder weniger realitätsnah sind.

In dieser Arbeit wurden mehrere Meßregime mit unterschiedlicher Veränderung der Eingangsgrößen (Verstimmung von Wheatstonebrücken als Meßgröße und Umgebungstemperatur als Störgröße) durchgeführt.

Zur Durchführung von Messungen wurde ein bereits bestehender Meßstand fertiggestellt und in Betrieb genommen. Dazu mußte eine diskrete Temperaturregelung aufgebaut und ein Programm zur Steuerung der Messungen geschrieben werden (Software: National Instruments® LabVIEW®). Es wurde ebenfalls ein Programm geschrieben, das mit Hilfe einer Regressionsanalyse das statische Übertragungsverhalten aus den Meßwerten berechnet (Software: National Instruments® HiQ®).

Bei den durchgeführten Messungen konnte anhand der Meßwerte kein einheitlicher Trend festgestellt werden. Somit kann die Hauptfrage dieser Arbeit, welchen Einfluß das Meßregime auf die Bestimmung der Kennwerte hat, nicht abschließend beantwortet werden.

Item Type: Seminar paper (Midterm)
Erschienen: 1999
Creators: Müller, Ralf
Title: Einfluss des Meßregimes auf die Bestimmung von Kennwerten integrierter Verstärker
Language: German
Abstract:

Zusammenfassung:

Die Eigenschaften integrierter Verstärker, im folgenden Primärelektronik genannt, werden in Datenblättern anhand von Kennwerten beschrieben. Jeder Kennwert beschreibt eine ganz bestimmte Eigenschaft der Elektronik. Das resultierende Verhalten im praktischen Einsatz bleibt jedoch teilweise unklar.

Eine andere Möglichkeit besteht in der Beschreibung durch algebraische Funktionen, die das Übertragungsverhalten der Primärelektronik mathematisch darstellen. Die Funktionen werden aus Meßwerten bestimmt. Die Aufnahme dieser Meßwerte kann nach verschiedenen Vorschriften (Meßregimen) erfolgen. Der Einfluß des Meßregimes auf die Bestimmung der Koeffizienten bzw. der Kennwerte der Primärelektronik soll in dieser Arbeit bestimmt werden.

In der praktischen Anwendung ändern sich die Eingangsgrößen (Meßgröße und Störgrößen) zufällig und zeitgleich. Bei der Vermessung einer Primärelektronik können die Eingangsgrößen auch determiniert und nacheinander verändert werden, um so einzelne Kennwerte bestimmen zu können. Durch Variation der Veränderung der Eingangsgrößen sind verschiedene Meßregime denkbar, welche mehr oder weniger realitätsnah sind.

In dieser Arbeit wurden mehrere Meßregime mit unterschiedlicher Veränderung der Eingangsgrößen (Verstimmung von Wheatstonebrücken als Meßgröße und Umgebungstemperatur als Störgröße) durchgeführt.

Zur Durchführung von Messungen wurde ein bereits bestehender Meßstand fertiggestellt und in Betrieb genommen. Dazu mußte eine diskrete Temperaturregelung aufgebaut und ein Programm zur Steuerung der Messungen geschrieben werden (Software: National Instruments® LabVIEW®). Es wurde ebenfalls ein Programm geschrieben, das mit Hilfe einer Regressionsanalyse das statische Übertragungsverhalten aus den Meßwerten berechnet (Software: National Instruments® HiQ®).

Bei den durchgeführten Messungen konnte anhand der Meßwerte kein einheitlicher Trend festgestellt werden. Somit kann die Hauptfrage dieser Arbeit, welchen Einfluß das Meßregime auf die Bestimmung der Kennwerte hat, nicht abschließend beantwortet werden.

Uncontrolled Keywords: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Fehler systematisch, Fehler zufällig, Fehlerübertragungsmodel, Messregime, Primärelektronik, Temperaturregelung
Divisions: 18 Department of Electrical Engineering and Information Technology
18 Department of Electrical Engineering and Information Technology > Institute for Electromechanical Design
18 Department of Electrical Engineering and Information Technology > Institute for Electromechanical Design > Measurement and Sensor Technology
Date Deposited: 09 Sep 2011 14:23
Additional Information:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1440

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 09-11-1998

Ende Datum: 24-08-1999

Querverweis: Projektseminar 18.104.4.2 W97, 17/24 EMKS 1422, 17/24 EMKD 1433

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK)

Abschluss: Diplom (EMK)

Identification Number: 17/24 EMKS 1440
Referees: Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten and Werthschützky, Prof. Dr.- Roland
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