Müller, Ralf (1999)
Einfluss des Meßregimes auf die Bestimmung von Kennwerten integrierter Verstärker.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
Die Eigenschaften integrierter Verstärker, im folgenden Primärelektronik genannt, werden in Datenblättern anhand von Kennwerten beschrieben. Jeder Kennwert beschreibt eine ganz bestimmte Eigenschaft der Elektronik. Das resultierende Verhalten im praktischen Einsatz bleibt jedoch teilweise unklar.
Eine andere Möglichkeit besteht in der Beschreibung durch algebraische Funktionen, die das Übertragungsverhalten der Primärelektronik mathematisch darstellen. Die Funktionen werden aus Meßwerten bestimmt. Die Aufnahme dieser Meßwerte kann nach verschiedenen Vorschriften (Meßregimen) erfolgen. Der Einfluß des Meßregimes auf die Bestimmung der Koeffizienten bzw. der Kennwerte der Primärelektronik soll in dieser Arbeit bestimmt werden.
In der praktischen Anwendung ändern sich die Eingangsgrößen (Meßgröße und Störgrößen) zufällig und zeitgleich. Bei der Vermessung einer Primärelektronik können die Eingangsgrößen auch determiniert und nacheinander verändert werden, um so einzelne Kennwerte bestimmen zu können. Durch Variation der Veränderung der Eingangsgrößen sind verschiedene Meßregime denkbar, welche mehr oder weniger realitätsnah sind.
In dieser Arbeit wurden mehrere Meßregime mit unterschiedlicher Veränderung der Eingangsgrößen (Verstimmung von Wheatstonebrücken als Meßgröße und Umgebungstemperatur als Störgröße) durchgeführt.
Zur Durchführung von Messungen wurde ein bereits bestehender Meßstand fertiggestellt und in Betrieb genommen. Dazu mußte eine diskrete Temperaturregelung aufgebaut und ein Programm zur Steuerung der Messungen geschrieben werden (Software: National Instruments® LabVIEW®). Es wurde ebenfalls ein Programm geschrieben, das mit Hilfe einer Regressionsanalyse das statische Übertragungsverhalten aus den Meßwerten berechnet (Software: National Instruments® HiQ®).
Bei den durchgeführten Messungen konnte anhand der Meßwerte kein einheitlicher Trend festgestellt werden. Somit kann die Hauptfrage dieser Arbeit, welchen Einfluß das Meßregime auf die Bestimmung der Kennwerte hat, nicht abschließend beantwortet werden.
| Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 1999 |
| Autor(en): | Müller, Ralf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Einfluss des Meßregimes auf die Bestimmung von Kennwerten integrierter Verstärker |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten ; Werthschützky, Prof. Dr.- Roland |
| Publikationsjahr: | 24 August 1999 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: Die Eigenschaften integrierter Verstärker, im folgenden Primärelektronik genannt, werden in Datenblättern anhand von Kennwerten beschrieben. Jeder Kennwert beschreibt eine ganz bestimmte Eigenschaft der Elektronik. Das resultierende Verhalten im praktischen Einsatz bleibt jedoch teilweise unklar. Eine andere Möglichkeit besteht in der Beschreibung durch algebraische Funktionen, die das Übertragungsverhalten der Primärelektronik mathematisch darstellen. Die Funktionen werden aus Meßwerten bestimmt. Die Aufnahme dieser Meßwerte kann nach verschiedenen Vorschriften (Meßregimen) erfolgen. Der Einfluß des Meßregimes auf die Bestimmung der Koeffizienten bzw. der Kennwerte der Primärelektronik soll in dieser Arbeit bestimmt werden. In der praktischen Anwendung ändern sich die Eingangsgrößen (Meßgröße und Störgrößen) zufällig und zeitgleich. Bei der Vermessung einer Primärelektronik können die Eingangsgrößen auch determiniert und nacheinander verändert werden, um so einzelne Kennwerte bestimmen zu können. Durch Variation der Veränderung der Eingangsgrößen sind verschiedene Meßregime denkbar, welche mehr oder weniger realitätsnah sind. In dieser Arbeit wurden mehrere Meßregime mit unterschiedlicher Veränderung der Eingangsgrößen (Verstimmung von Wheatstonebrücken als Meßgröße und Umgebungstemperatur als Störgröße) durchgeführt. Zur Durchführung von Messungen wurde ein bereits bestehender Meßstand fertiggestellt und in Betrieb genommen. Dazu mußte eine diskrete Temperaturregelung aufgebaut und ein Programm zur Steuerung der Messungen geschrieben werden (Software: National Instruments® LabVIEW®). Es wurde ebenfalls ein Programm geschrieben, das mit Hilfe einer Regressionsanalyse das statische Übertragungsverhalten aus den Meßwerten berechnet (Software: National Instruments® HiQ®). Bei den durchgeführten Messungen konnte anhand der Meßwerte kein einheitlicher Trend festgestellt werden. Somit kann die Hauptfrage dieser Arbeit, welchen Einfluß das Meßregime auf die Bestimmung der Kennwerte hat, nicht abschließend beantwortet werden. |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Fehler systematisch, Fehler zufällig, Fehlerübertragungsmodel, Messregime, Primärelektronik, Temperaturregelung |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKS 1440 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1440 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 09-11-1998 Ende Datum: 24-08-1999 Querverweis: Projektseminar 18.104.4.2 W97, 17/24 EMKS 1422, 17/24 EMKD 1433 Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK) Abschluss: Diplom (EMK) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mess- und Sensortechnik |
| Hinterlegungsdatum: | 09 Sep 2011 14:23 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:53 |
| PPN: | |
| Referenten: | Zahout-Heil, Dipl.-Ing. Carsten ; Werthschützky, Prof. Dr.- Roland |
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