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Entfernungsmessung aufgrund eines Bildschärfmaßes

Nitsch, Hendrik (1995)
Entfernungsmessung aufgrund eines Bildschärfmaßes.
Technische Universität Darmstadt
Diplom- oder Magisterarbeit, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Zusammenfassung:

Die Arbeit befaßt sich mit der Entfernungsbestimmung durch eine Schärfemessung von optischen Abbildungen. Hierfür werden Schärfemeßalgorithmen untersucht, die dazu geeignet sind, eine Aussage über die Fokussierung einer optischen Abbildung zu machen. Durch Suchen eines Schärfemaximums kann die bei der Aufnahme mit einem zweidimensionalen Bildsensor verlorengegangene Tiefeninformation zurückzugewonnen werden. Die Rekonstruktion der Tiefeninformation erfolgt aus Sequenzen von Videobildern einer Szene, die mit unterschiedlichen Fokuseinstellungen aufgenommen wurden.

Nach einer theoretischen Untersuchung über die Entstehung unscharfer Bilder werden verschiedene Prinzipien zur Auswertung und Bewertung unscharfer Bilder vorgestellt. Die Meßalgorithmen sind stochastische Meßverfahren und Helligkeitsgradientenverfahren. Ein Vergleich der Meßprinzipien stellt die Vor- und Nachteile der einzelnen Meßverfahren dar. Mit den gewonnenen Erkenntnissen wird eine Meßumgebung zum Testen verschiedener Schärfemeßalgorithmen entwickelt, um die Tauglichkeit für eine Entfernungsmessung zu ermitteln.

Die Meßumgebung besteht aus einer Videokamera, einer Video-Digitalisierungskarte und einem PC. Ein 'C'-Programm ermöglicht einen direkten Vergleich der verschiedenen Schärfemeßverfahren. Eine abschließende Bewertung zeigt die bei den Messungen aufgetretenen Vor- und Nachteile der Meßverfahren auf.

Typ des Eintrags: Diplom- oder Magisterarbeit
Erschienen: 1995
Autor(en): Nitsch, Hendrik
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Entfernungsmessung aufgrund eines Bildschärfmaßes
Sprache: Deutsch
Referenten: Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
Publikationsjahr: 9 März 1995
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Kurzbeschreibung (Abstract):

Zusammenfassung:

Die Arbeit befaßt sich mit der Entfernungsbestimmung durch eine Schärfemessung von optischen Abbildungen. Hierfür werden Schärfemeßalgorithmen untersucht, die dazu geeignet sind, eine Aussage über die Fokussierung einer optischen Abbildung zu machen. Durch Suchen eines Schärfemaximums kann die bei der Aufnahme mit einem zweidimensionalen Bildsensor verlorengegangene Tiefeninformation zurückzugewonnen werden. Die Rekonstruktion der Tiefeninformation erfolgt aus Sequenzen von Videobildern einer Szene, die mit unterschiedlichen Fokuseinstellungen aufgenommen wurden.

Nach einer theoretischen Untersuchung über die Entstehung unscharfer Bilder werden verschiedene Prinzipien zur Auswertung und Bewertung unscharfer Bilder vorgestellt. Die Meßalgorithmen sind stochastische Meßverfahren und Helligkeitsgradientenverfahren. Ein Vergleich der Meßprinzipien stellt die Vor- und Nachteile der einzelnen Meßverfahren dar. Mit den gewonnenen Erkenntnissen wird eine Meßumgebung zum Testen verschiedener Schärfemeßalgorithmen entwickelt, um die Tauglichkeit für eine Entfernungsmessung zu ermitteln.

Die Meßumgebung besteht aus einer Videokamera, einer Video-Digitalisierungskarte und einem PC. Ein 'C'-Programm ermöglicht einen direkten Vergleich der verschiedenen Schärfemeßverfahren. Eine abschließende Bewertung zeigt die bei den Messungen aufgetretenen Vor- und Nachteile der Meßverfahren auf.

Freie Schlagworte: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Bildschärfe, Fokussierparameter, Tiefeninformation von Bildern
ID-Nummer: 17/24 EMKD 1242
Zusätzliche Informationen:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKD 1242

Art der Arbeit: Diplomarbeit

Beginn Datum: 23-11-1994

Ende Datum: 09-03-1995

Querverweis: 17/24 EMKS 1154, 17/24 EMKD 1153

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (Dipl.)

Abschluss: Diplom (EMK)

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018)
Hinterlegungsdatum: 04 Okt 2011 12:14
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:52
PPN:
Referenten: Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
Export:
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