Mack, Ralf (1995)
Aktive Verfahren zur Gewinnung von Tiefeninformation aufgrund der Bildschärfe.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
Der erste Teil dieser Studienarbeit enthält eine Übersicht über aktive optische 3D-Meßverfahren. Die Verfahren sind nach physikalischen Gesichtspunkten gegliedert. Sie werden qualitativ und teilweise quantitativ miteinander verglichen. Die Stellung der Meßverfahren auf Basis der Bildschärfe innerhalb der aktiven optischen Verfahren findet besondere Berücksichtigung. Das Fokus-Gradienten-Verfahren oder auch Depth from Defocus-Verfahren ist mit einfachen Mitteln realisierbar. Es eignet sich zur Vermessung von bewegten Objekten. Abschattungseffekte und Mehrdeutigkeit der Meßwerte sind nicht vorhanden. Das Fokus-Gradienten-Prinzip ist in jeweils einem Versuchsaufbau für den mikroskopischen Meßbereich und für den makroskopischen Meßbereich eingesetzt worden. Der Aufbau für den mikroskopischen Meßbereich erfolgte durch Modifikation eines handelsüblichen Auflichtmikroskops.
Der Aufbau für den makroskopischen Meßbereich ist in einen diskreten Aufbau mit einem Diaprojektor und einem Strahlteiler realisiert worden.
Technische Daten:
Diaprojektor:
* Tiefenmeßbereich: 190 mm
* Meßabstand: 680 mm
* Bildfeld max.: 350 x 240 mm²
* Optik: f=85 mm, 1:2,4 M5x NA 0,1
* Mittlerer Fehler: 0,72
Mikroskop:
* Tiefenmeßbereich: 3 mm
* Meßabstand: 20 mm
* Bildfeld max.: 3 x 2 mm²
* Okular: f=20 mm, Bi Px7
* mittlerer Fehler: nicht feststellbar
Kamera:
* Lochblende
| Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Mack, Ralf |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Aktive Verfahren zur Gewinnung von Tiefeninformation aufgrund der Bildschärfe |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz |
| Publikationsjahr: | 7 August 1995 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: Der erste Teil dieser Studienarbeit enthält eine Übersicht über aktive optische 3D-Meßverfahren. Die Verfahren sind nach physikalischen Gesichtspunkten gegliedert. Sie werden qualitativ und teilweise quantitativ miteinander verglichen. Die Stellung der Meßverfahren auf Basis der Bildschärfe innerhalb der aktiven optischen Verfahren findet besondere Berücksichtigung. Das Fokus-Gradienten-Verfahren oder auch Depth from Defocus-Verfahren ist mit einfachen Mitteln realisierbar. Es eignet sich zur Vermessung von bewegten Objekten. Abschattungseffekte und Mehrdeutigkeit der Meßwerte sind nicht vorhanden. Das Fokus-Gradienten-Prinzip ist in jeweils einem Versuchsaufbau für den mikroskopischen Meßbereich und für den makroskopischen Meßbereich eingesetzt worden. Der Aufbau für den mikroskopischen Meßbereich erfolgte durch Modifikation eines handelsüblichen Auflichtmikroskops. Der Aufbau für den makroskopischen Meßbereich ist in einen diskreten Aufbau mit einem Diaprojektor und einem Strahlteiler realisiert worden. Technische Daten: Diaprojektor: * Tiefenmeßbereich: 190 mm * Meßabstand: 680 mm * Bildfeld max.: 350 x 240 mm² * Optik: f=85 mm, 1:2,4 M5x NA 0,1 * Mittlerer Fehler: 0,72 Mikroskop: * Tiefenmeßbereich: 3 mm * Meßabstand: 20 mm * Bildfeld max.: 3 x 2 mm² * Okular: f=20 mm, Bi Px7 * mittlerer Fehler: nicht feststellbar Kamera: * Lochblende |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Bildschärfe, Fokus-Gradienten-Verfahren, Fokussiereinrichtung aktiv, Literaturrecherche, Tiefeninformation von Bildern, Triangulation |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKS 1238 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1238 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 07-11-1994 Ende Datum: 07-08-1995 Querverweis: keiner Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (Dipl.) Abschluss: Diplom (EMK) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) |
| Hinterlegungsdatum: | 04 Okt 2011 12:12 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:52 |
| PPN: | |
| Referenten: | Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz |
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