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Aktive Verfahren zur Gewinnung von Tiefeninformation aufgrund der Bildschärfe

Mack, Ralf (1995)
Aktive Verfahren zur Gewinnung von Tiefeninformation aufgrund der Bildschärfe.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Zusammenfassung:

Der erste Teil dieser Studienarbeit enthält eine Übersicht über aktive optische 3D-Meßverfahren. Die Verfahren sind nach physikalischen Gesichtspunkten gegliedert. Sie werden qualitativ und teilweise quantitativ miteinander verglichen. Die Stellung der Meßverfahren auf Basis der Bildschärfe innerhalb der aktiven optischen Verfahren findet besondere Berücksichtigung. Das Fokus-Gradienten-Verfahren oder auch Depth from Defocus-Verfahren ist mit einfachen Mitteln realisierbar. Es eignet sich zur Vermessung von bewegten Objekten. Abschattungseffekte und Mehrdeutigkeit der Meßwerte sind nicht vorhanden. Das Fokus-Gradienten-Prinzip ist in jeweils einem Versuchsaufbau für den mikroskopischen Meßbereich und für den makroskopischen Meßbereich eingesetzt worden. Der Aufbau für den mikroskopischen Meßbereich erfolgte durch Modifikation eines handelsüblichen Auflichtmikroskops.

Der Aufbau für den makroskopischen Meßbereich ist in einen diskreten Aufbau mit einem Diaprojektor und einem Strahlteiler realisiert worden.

Technische Daten:

Diaprojektor:

* Tiefenmeßbereich: 190 mm

* Meßabstand: 680 mm

* Bildfeld max.: 350 x 240 mm²

* Optik: f=85 mm, 1:2,4 M5x NA 0,1

* Mittlerer Fehler: 0,72

Mikroskop:

* Tiefenmeßbereich: 3 mm

* Meßabstand: 20 mm

* Bildfeld max.: 3 x 2 mm²

* Okular: f=20 mm, Bi Px7

* mittlerer Fehler: nicht feststellbar

Kamera:

* Lochblende

Typ des Eintrags: Studienarbeit
Erschienen: 1995
Autor(en): Mack, Ralf
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Aktive Verfahren zur Gewinnung von Tiefeninformation aufgrund der Bildschärfe
Sprache: Deutsch
Referenten: Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
Publikationsjahr: 7 August 1995
Zugehörige Links:
Kurzbeschreibung (Abstract):

Zusammenfassung:

Der erste Teil dieser Studienarbeit enthält eine Übersicht über aktive optische 3D-Meßverfahren. Die Verfahren sind nach physikalischen Gesichtspunkten gegliedert. Sie werden qualitativ und teilweise quantitativ miteinander verglichen. Die Stellung der Meßverfahren auf Basis der Bildschärfe innerhalb der aktiven optischen Verfahren findet besondere Berücksichtigung. Das Fokus-Gradienten-Verfahren oder auch Depth from Defocus-Verfahren ist mit einfachen Mitteln realisierbar. Es eignet sich zur Vermessung von bewegten Objekten. Abschattungseffekte und Mehrdeutigkeit der Meßwerte sind nicht vorhanden. Das Fokus-Gradienten-Prinzip ist in jeweils einem Versuchsaufbau für den mikroskopischen Meßbereich und für den makroskopischen Meßbereich eingesetzt worden. Der Aufbau für den mikroskopischen Meßbereich erfolgte durch Modifikation eines handelsüblichen Auflichtmikroskops.

Der Aufbau für den makroskopischen Meßbereich ist in einen diskreten Aufbau mit einem Diaprojektor und einem Strahlteiler realisiert worden.

Technische Daten:

Diaprojektor:

* Tiefenmeßbereich: 190 mm

* Meßabstand: 680 mm

* Bildfeld max.: 350 x 240 mm²

* Optik: f=85 mm, 1:2,4 M5x NA 0,1

* Mittlerer Fehler: 0,72

Mikroskop:

* Tiefenmeßbereich: 3 mm

* Meßabstand: 20 mm

* Bildfeld max.: 3 x 2 mm²

* Okular: f=20 mm, Bi Px7

* mittlerer Fehler: nicht feststellbar

Kamera:

* Lochblende

Freie Schlagworte: Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Bildschärfe, Fokus-Gradienten-Verfahren, Fokussiereinrichtung aktiv, Literaturrecherche, Tiefeninformation von Bildern, Triangulation
ID-Nummer: 17/24 EMKS 1238
Zusätzliche Informationen:

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1238

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 07-11-1994

Ende Datum: 07-08-1995

Querverweis: keiner

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (Dipl.)

Abschluss: Diplom (EMK)

Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018)
Hinterlegungsdatum: 04 Okt 2011 12:12
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:52
PPN:
Referenten: Rönneberg, Dipl.-Ing. Gerrit ; Weißmantel, Prof. Dr.- Heinz
Export:
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