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Zusammenfassung:

Es ist möglich mit Systemen, die mit nur einer Kamera arbeiten, die Tiefeninformation aus der Bildschärfe zu bestimmen. Bei diesen Systemen müssen die Parameter der Kamera (Brennweite, Blendengröße und Abstand vom Bildaufnehmer zur Hauptebene des Objektives) bekannt sein.

Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich damit die während der Aufnahme eingestellten Kameraparameter zu bestimmen. Es wird zunächst diskutiert wie eine solche Bestimmung ablaufen kann ohne die Aufnahme zu stören. Eine Prinzipiensammlung zur Messung der einzelnen Parameter schließt sich an. Aus diesen Prinzipien werden drei Konzepte gebildet, die eine Erfassung der Parameter ermöglichen. Ein Konzept wird in einem Versuch genauer untersucht. Hier wird ein parallel zur optischen Achse der Kamera ausgerichtetes Streifenmuster Aufgenommen. Mit einem Suchalgorithmus werden die Streifen im Bild aufgesucht. Anschließend werden die Hauptebenen des Objektives bestimmt. Für verschiedene Streifenpaare eines Bildes wird der Abstand vom Bildaufnehmer zur Hauptebene errechnet. Die ermittelten Abstände in drei Bildern differieren jeweils um 1,15mm (14%), 1,46mm (20%) und 0,4mm (6%).

Der Versuch zeigt, daß diese Messung möglich ist, die geforderte Genauigkeit jedoch nicht erreicht wird.

EMK-spezifische Daten:

Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate,

Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 1237

Art der Arbeit: Studienarbeit

Beginn Datum: 31-10-1994

Ende Datum: 31-07-1995

Querverweis: keiner

Studiengang: Elektrotechnik (ET)

Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (Dipl.)

Abschluss: Diplom (EMK)

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