Kilian, Heinz (1988)
IC-Testgerät.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert.
| Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 1988 |
| Autor(en): | Kilian, Heinz |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | IC-Testgerät |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Merz, Dipl.-Ing. Diethard ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich |
| Publikationsjahr: | 11 November 1988 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC eingesetzt werden muß. Außerdem wird das Testergebnis angezeigt. Eine Wiederholtaste erleichtert die Bedienung, wenn mehrere IC's gleichen Typs getestet werden. Das Testgerät basiert auf einem Z80-Mikroprozessorsystem. Die Bedienung erfolgt mit Hilfe eines externen Rechners, der über Steuerbefehle mit dem Testgerät kommuniziert. |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, CMOS, CMOS-Technologie, IC-Tester, Logik, TTL, Z80 |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKS 764 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 764 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 18-05-1987 Ende Datum: 11-11-1988 Querverweis: keiner Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK) Abschluss: Diplom (EMK) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) |
| Hinterlegungsdatum: | 26 Okt 2011 07:54 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:52 |
| PPN: | |
| Referenten: | Merz, Dipl.-Ing. Diethard ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich |
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