Tilgner, Rainer (1987)
Messsystem zur Spektralanalyse beim Abtasten stochastisch rauher Oberflächen.
Technische Universität Darmstadt
Diplom- oder Magisterarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
In dieser Arbeit wurde ein Meßsystem entwickelt und aufgebaut, das aus dem analogen Meßsignal beim Abtasten einer stochastisch rauhen Oberfläche ein Taktsignal ableitet. Dieses Taktsignal dient zur Anpassung einer Auswertelektronik zur berührungslosen Geschwindigkeitsmessung an das auftretende Frequenzspektrum. Die Helligkeitsunterschiede der Meßoberfläche werden mit einem optischen Sensor erfaßt und in ein elektrisches Signal umgewandelt. Aus der durchschnittlichen Nulldurchgangsrate des analogen Abtastsignals wird direkt die erforderliche Taktfrequenz erzeugt. Die Frequenz ist propotional zur äquivalenten Bandbreite des auftretenden Leistungsdichtespektrums.
| Typ des Eintrags: | Diplom- oder Magisterarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 1987 |
| Autor(en): | Tilgner, Rainer |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Messsystem zur Spektralanalyse beim Abtasten stochastisch rauher Oberflächen |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Yi, Dipl.-Ing. You-Shin ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich |
| Publikationsjahr: | 25 August 1987 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: In dieser Arbeit wurde ein Meßsystem entwickelt und aufgebaut, das aus dem analogen Meßsignal beim Abtasten einer stochastisch rauhen Oberfläche ein Taktsignal ableitet. Dieses Taktsignal dient zur Anpassung einer Auswertelektronik zur berührungslosen Geschwindigkeitsmessung an das auftretende Frequenzspektrum. Die Helligkeitsunterschiede der Meßoberfläche werden mit einem optischen Sensor erfaßt und in ein elektrisches Signal umgewandelt. Aus der durchschnittlichen Nulldurchgangsrate des analogen Abtastsignals wird direkt die erforderliche Taktfrequenz erzeugt. Die Frequenz ist propotional zur äquivalenten Bandbreite des auftretenden Leistungsdichtespektrums. |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Abtastung optisch, Berührungsloses Messen, Geschwindigkeitsmessung, Sensoren optisch, Spektralanalyse, Stochastisches Signal |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKD 758 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKD 758 Art der Arbeit: Diplomarbeit Beginn Datum: 18-05-1987 Ende Datum: 25-08-1987 Querverweis: 17/24 EMKD 736, 17/24 EMKD 741 Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK) Abschluss: Diplom (EMK) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) |
| Hinterlegungsdatum: | 26 Okt 2011 07:55 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:52 |
| PPN: | |
| Referenten: | Yi, Dipl.-Ing. You-Shin ; Buschmann, Prof. Dr.- Heinrich |
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