Koch, Alexander (1987)
Bestimmung der Thiele-Small-Parameter an handelsüblichen elektrodynamischen Lautsprechern.
Technische Universität Darmstadt
Studienarbeit, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Zusammenfassung:
In dieser Arbeit wurde ein Meßplatz realisiert, der es ermöglicht, die Thiele-Small-Parameter von dynamischen Lautsprecherchassis zu ermitteln. Die Thiele-Small-Parameter umfassen das Äquivalentvolumen Vas, die Resonanzfrequenz fs, die Güten Q, die mechanische Nachgiebigkeit Cms, die dynamische Gesamtmasse Mmz und den Gleichstromwiderstand Re der Schwingspule. Man erhält alle Thiele-Small-Parameter aus der frequenzabhängigen Impedanzkurve des Lautsprechers mit Hilfe eines die Schwingspule durchfließenden Konstantstromes. Zur Bestimmung des Äquivalentvolumens wird durch Auflegen einer bekannten Masse auf die Membran eine Resonanzverschiebung erzeugt. Als Auflagemasse dienen Kunststoffringe. Die gemessenen Kenndaten der Lautsprecher werden auf Kartei-Karten gespeichert. Gleichzeitig dienen die Karten der Benutzerführung während der Messung. Ein Taschenrechner errechnet aus den Meßdaten die Thiele Small-Parameter.
| Typ des Eintrags: | Studienarbeit |
|---|---|
| Erschienen: | 1987 |
| Autor(en): | Koch, Alexander |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Bestimmung der Thiele-Small-Parameter an handelsüblichen elektrodynamischen Lautsprechern |
| Sprache: | Deutsch |
| Referenten: | Cramer, Prof. Dr.- Bernhard ; Besserer, Dipl.-Ing. Matthias |
| Publikationsjahr: | 21 Dezember 1987 |
| Zugehörige Links: | |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Zusammenfassung: In dieser Arbeit wurde ein Meßplatz realisiert, der es ermöglicht, die Thiele-Small-Parameter von dynamischen Lautsprecherchassis zu ermitteln. Die Thiele-Small-Parameter umfassen das Äquivalentvolumen Vas, die Resonanzfrequenz fs, die Güten Q, die mechanische Nachgiebigkeit Cms, die dynamische Gesamtmasse Mmz und den Gleichstromwiderstand Re der Schwingspule. Man erhält alle Thiele-Small-Parameter aus der frequenzabhängigen Impedanzkurve des Lautsprechers mit Hilfe eines die Schwingspule durchfließenden Konstantstromes. Zur Bestimmung des Äquivalentvolumens wird durch Auflegen einer bekannten Masse auf die Membran eine Resonanzverschiebung erzeugt. Als Auflagemasse dienen Kunststoffringe. Die gemessenen Kenndaten der Lautsprecher werden auf Kartei-Karten gespeichert. Gleichzeitig dienen die Karten der Benutzerführung während der Messung. Ein Taschenrechner errechnet aus den Meßdaten die Thiele Small-Parameter. |
| Freie Schlagworte: | Elektromechanische Konstruktionen, Mikro- und Feinwerktechnik, Lautsprecher, Lautsprecherkenngrößen, Lautsprechervergleichstest, Lautsprechervermessung, Thiele-Small-Parameter |
| ID-Nummer: | 17/24 EMKS 722 |
| Zusätzliche Informationen: | EMK-spezifische Daten: Lagerort Dokument: Archiv EMK, Kontakt über Sekretariate, Bibliotheks-Sigel: 17/24 EMKS 722 Art der Arbeit: Studienarbeit Beginn Datum: 03-11-1986 Ende Datum: 21-12-1987 Querverweis: keiner Studiengang: Elektrotechnik (ET) Vertiefungsrichtung: Elektromechanische Konstruktionen (EMK) Abschluss: Diplom (EMK) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Elektromechanische Konstruktionen (aufgelöst 18.12.2018) |
| Hinterlegungsdatum: | 27 Okt 2011 09:33 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:52 |
| PPN: | |
| Referenten: | Cramer, Prof. Dr.- Bernhard ; Besserer, Dipl.-Ing. Matthias |
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