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Migration of Charged Defects in Local Depolarization Fields as a Mechanism of Aging in Ferroelectrics

Genenko, Yuri A. ; Balke, Nina ; Lupascu, Doru C. (2008)
Migration of Charged Defects in Local Depolarization Fields as a Mechanism of Aging in Ferroelectrics.
In: Ferroelectrics, 370 (1)
doi: 10.1080/00150190802381563
Artikel, Bibliographie

Kurzbeschreibung (Abstract)

Quasistatic dielectric relaxation due to migration of charged point defects is considered as a mechanism of aging in ferroelectrics. A two-dimensional model is developed which includes the coupled potential problem and the field-driven diffusion problem. Numerical study reveals formation of space charge zones near the grain boundaries with the only characteristic time of several days being the Maxwell relaxation time defined by the charge carrier density and mobility. The clamping pressure due to charge segregation is about few MPa which corresponds to observed coercive stresses in perovskite ferroelectrics and is significantly stronger than in the mechanisms involving orientational reordering of defect dipoles.

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2008
Autor(en): Genenko, Yuri A. ; Balke, Nina ; Lupascu, Doru C.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Migration of Charged Defects in Local Depolarization Fields as a Mechanism of Aging in Ferroelectrics
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Oktober 2008
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Ferroelectrics
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 370
(Heft-)Nummer: 1
DOI: 10.1080/00150190802381563
Kurzbeschreibung (Abstract):

Quasistatic dielectric relaxation due to migration of charged point defects is considered as a mechanism of aging in ferroelectrics. A two-dimensional model is developed which includes the coupled potential problem and the field-driven diffusion problem. Numerical study reveals formation of space charge zones near the grain boundaries with the only characteristic time of several days being the Maxwell relaxation time defined by the charge carrier density and mobility. The clamping pressure due to charge segregation is about few MPa which corresponds to observed coercive stresses in perovskite ferroelectrics and is significantly stronger than in the mechanisms involving orientational reordering of defect dipoles.
Zusätzliche Informationen:

SFB 595 Cooperation C5, D1
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Nichtmetallisch-Anorganische Werkstoffe
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > C - Modellierung > Teilprojekt C5: Phänomenologische Modellierung von Injektion, Transport und Rekombination in Bauelementen aus organischen Halbleitern sowie aus nichtorganischen Ferroelektrika
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften > Teilprojekt D1: Mesoskopische und makroskopische Ermüdung in dotierten ferroelektrischen Keramiken
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > C - Modellierung
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Zentrale Einrichtungen
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche
DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio)
Hinterlegungsdatum: 17 Aug 2011 13:12
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:52
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