Zhang, Yong ; Baturin, Ivan S. ; Aulbach, Emil ; Lupascu, Doru C. ; Kholkin, Andrei L. ; Shur, Vladimir Ya. ; Rödel, Jürgen (2005)
Evolution of bias field and offset piezoelectric coefficient in bulk lead zirconate titanate with fatigue.
In: Applied Physics Letters, 86 (1)
doi: 10.1063/1.1847712
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Hysteresis loops of the piezoelectric coefficient, d33 = f(E3), are measured on virgin and fatigued lead zirconate titanate ceramics. Four parameters are directly extracted from the measurements: internal bias field Eb, offset piezoelectric coefficient doffset, coercive field Ec, and remnant piezoelectric coefficient dr. The reduction in dr displays the decreasing switchable polarization with fatigue cycling. Eb and doffset are found to be linearly related. After thermal annealing, both offsets disappear, while the increase in Ec and the reduction in dr withstand annealing. The microscopic entities responsible for the offsets are less stable than those for reduced switching.
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2005 |
Autor(en): | Zhang, Yong ; Baturin, Ivan S. ; Aulbach, Emil ; Lupascu, Doru C. ; Kholkin, Andrei L. ; Shur, Vladimir Ya. ; Rödel, Jürgen |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Evolution of bias field and offset piezoelectric coefficient in bulk lead zirconate titanate with fatigue |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | Januar 2005 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 86 |
(Heft-)Nummer: | 1 |
DOI: | 10.1063/1.1847712 |
Kurzbeschreibung (Abstract): | Hysteresis loops of the piezoelectric coefficient, d33 = f(E3), are measured on virgin and fatigued lead zirconate titanate ceramics. Four parameters are directly extracted from the measurements: internal bias field Eb, offset piezoelectric coefficient doffset, coercive field Ec, and remnant piezoelectric coefficient dr. The reduction in dr displays the decreasing switchable polarization with fatigue cycling. Eb and doffset are found to be linearly related. After thermal annealing, both offsets disappear, while the increase in Ec and the reduction in dr withstand annealing. The microscopic entities responsible for the offsets are less stable than those for reduced switching. |
Freie Schlagworte: | lead compounds, ferroelectric ceramics, piezoceramics, piezoelectricity, dielectric hysteresis, dielectric polarisation, ferroelectric switching, annealing |
Zusätzliche Informationen: | SFB 595 Cooperation B5, D1 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Nichtmetallisch-Anorganische Werkstoffe Zentrale Einrichtungen DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung > Teilprojekt B5: Modellversuche zur Wechselwirkung ferroelektrischer Domänen mit Punktdefekten und deren Agglomeraten DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften > Teilprojekt D1: Mesoskopische und makroskopische Ermüdung in dotierten ferroelektrischen Keramiken 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) |
Hinterlegungsdatum: | 15 Aug 2011 11:46 |
Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:51 |
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