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XPS analysis of wet chemical etching of GaAs(110) by Br2/H20: Comparison of emersion and model experiments

Beerbom, M. ; Henrion, O. ; Klein, Andreas ; Mayer, T. ; Jaegermann, W. (2000)
XPS analysis of wet chemical etching of GaAs(110) by Br2/H20: Comparison of emersion and model experiments.
In: Electrochimica Acta, 45
doi: 10.1016/S0013-4686(00)00618-6
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Beerbom, M. ; Henrion, O. ; Klein, Andreas ; Mayer, T. ; Jaegermann, W.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: XPS analysis of wet chemical etching of GaAs(110) by Br2/H20: Comparison of emersion and model experiments
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 November 2000
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Electrochimica Acta
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 45
DOI: 10.1016/S0013-4686(00)00618-6
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:00
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:27
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