Beerbom, M. ; Henrion, O. ; Klein, Andreas ; Mayer, T. ; Jaegermann, W. (2000)
XPS analysis of wet chemical etching of GaAs(110) by Br2/H20: Comparison of emersion and model experiments.
In: Electrochimica Acta, 45
doi: 10.1016/S0013-4686(00)00618-6
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 2000 |
Autor(en): | Beerbom, M. ; Henrion, O. ; Klein, Andreas ; Mayer, T. ; Jaegermann, W. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | XPS analysis of wet chemical etching of GaAs(110) by Br2/H20: Comparison of emersion and model experiments |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 1 November 2000 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Electrochimica Acta |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 45 |
DOI: | 10.1016/S0013-4686(00)00618-6 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:00 |
Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:27 |
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