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Kurzbeschreibung (Abstract)
The influence of Pt, tin-doped In2O3, and RuO2 electrodes on the electrical fatigue of bulk ceramic Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) has been studied. Schottky barrier heights at the ferroelectric/electrode interfaces vary by more than one electronvolt for different electrode materials and do not depend on crystallographic orientation of the interface. Despite different barrier heights, hysteresis loops of polarization, strain, permittivity, and piezoelectric constant and the switching kinetics are identical for all electrodes. A 20% reduction in polarization after 106 bipolar cycles is observed for all the samples. In contrast to PZT thin films, the loss of remanent polarization with bipolar switching cycles does not significantly depend on the electrode material.
Typ des Eintrags: |
Artikel
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Erschienen: |
2010 |
Autor(en): |
Chen, Feng ; Schafranek, Robert ; Wachau, André ; Zhukov, Sergey ; Glaum, Julia ; Granzow, Torsten ; Seggern, Heinz von ; Klein, Andreas |
Art des Eintrags: |
Bibliographie |
Titel: |
Barrier heights, polarization switching, and electrical fatigue in Pb(Zr,Ti)O3 ceramics with different electrodes |
Sprache: |
Englisch |
Publikationsjahr: |
November 2010 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: |
Journal of Applied Physics |
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: |
108 |
(Heft-)Nummer: |
10 |
DOI: |
10.1063/1.3512969 |
Zugehörige Links: |
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Kurzbeschreibung (Abstract): |
The influence of Pt, tin-doped In2O3, and RuO2 electrodes on the electrical fatigue of bulk ceramic Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) has been studied. Schottky barrier heights at the ferroelectric/electrode interfaces vary by more than one electronvolt for different electrode materials and do not depend on crystallographic orientation of the interface. Despite different barrier heights, hysteresis loops of polarization, strain, permittivity, and piezoelectric constant and the switching kinetics are identical for all electrodes. A 20% reduction in polarization after 106 bipolar cycles is observed for all the samples. In contrast to PZT thin films, the loss of remanent polarization with bipolar switching cycles does not significantly depend on the electrode material. |
Freie Schlagworte: |
crystal orientation, dielectric hysteresis, dielectric polarisation, electrodes, ferroelectric materials, lead compounds, permittivity, piezoceramics, piezoelectric thin films, Schottky barriers |
Zusätzliche Informationen: |
SFB 595 Cooperation B7, D1, D3 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Nichtmetallisch-Anorganische Werkstoffe 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche Zentrale Einrichtungen DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung > Teilprojekt B7:Polarisation und Ladung in elektrisch ermüdeten Ferroelektrika DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften > Teilprojekt D1: Mesoskopische und makroskopische Ermüdung in dotierten ferroelektrischen Keramiken DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > D - Bauteileigenschaften > Teilprojekt D3: Funktion und Ermüdung oxidischer Elektroden in organischen Leuchtdioden |
Hinterlegungsdatum: |
15 Jul 2011 10:14 |
Letzte Änderung: |
03 Jul 2024 02:19 |
PPN: |
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Export: |
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