Daniels, John E. ; Jo, Wook ; Rödel, Jürgen ; Rytz, Daniel ; Donner, Wolfgang (2011)
Structural origins of relaxor behavior in a 0.96(Bi[sub 1/2]Na[sub 1/2])TiO[sub 3]–0.04BaTiO[sub 3] single crystal under electric field.
In: Applied Physics Letters, 98 (25)
doi: 10.1063/1.3602316
Artikel, Bibliographie
Kurzbeschreibung (Abstract)
Diffuse x-ray scattering intensities from a single crystal of 0.96(Bi1/2Na1/2TiO3)–0.04(BaTiO3) have been collected at room temperature with and without application of an electric field along the [100] direction. Distinct features in the diffuse scattering intensities indicate correlations on a nanometer length scale. It is shown that locally correlated planar-like structures and octahedral tilt-domains within the room temperature rhombohedral R3c phase are both electrically active and are irreversibly affected by application of an electric field of 4.3 kV/mm. The field dependence of these nanoscale structures is correlated with the relaxor behavior of the material by macroscopic permittivity measurements.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2011 |
| Autor(en): | Daniels, John E. ; Jo, Wook ; Rödel, Jürgen ; Rytz, Daniel ; Donner, Wolfgang |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Structural origins of relaxor behavior in a 0.96(Bi[sub 1/2]Na[sub 1/2])TiO[sub 3]–0.04BaTiO[sub 3] single crystal under electric field |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | Juni 2011 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Applied Physics Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 98 |
| (Heft-)Nummer: | 25 |
| DOI: | 10.1063/1.3602316 |
| Kurzbeschreibung (Abstract): | Diffuse x-ray scattering intensities from a single crystal of 0.96(Bi1/2Na1/2TiO3)–0.04(BaTiO3) have been collected at room temperature with and without application of an electric field along the [100] direction. Distinct features in the diffuse scattering intensities indicate correlations on a nanometer length scale. It is shown that locally correlated planar-like structures and octahedral tilt-domains within the room temperature rhombohedral R3c phase are both electrically active and are irreversibly affected by application of an electric field of 4.3 kV/mm. The field dependence of these nanoscale structures is correlated with the relaxor behavior of the material by macroscopic permittivity measurements. |
| Freie Schlagworte: | barium compounds, bismuth compounds, dielectric polarisation, nanostructured materials, permittivity, relaxor ferroelectrics, sodium compounds, X-ray scattering |
| Zusätzliche Informationen: | SFB 595 Cooperation A1, B3 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Nichtmetallisch-Anorganische Werkstoffe Zentrale Einrichtungen DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > A - Synthese DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > A - Synthese > Teilprojekt A1: Herstellung keramischer, texturierter Akuatoren mit hoher Dehnung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung > Teilprojekt B3: Strukturelle Untersuchungen zur Aufklärung der elektrischen Ermüdung in PZT DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche > SFB 595: Elektrische Ermüdung > B - Charakterisierung DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) > Sonderforschungsbereiche DFG-Sonderforschungsbereiche (inkl. Transregio) |
| Hinterlegungsdatum: | 05 Jul 2011 13:26 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:50 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum