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An investigation on Point Defects in Silicon Carbide

Puff, W. ; Boumerzoug, M. ; Brown, J. ; Mascher, P. ; MacDonald, D. ; Simpson, P. J. ; Balogh, Adam G. (1995)
An investigation on Point Defects in Silicon Carbide.
In: Applied Physics A: Materials Science and Processing, 61 (1)
doi: 10.1007/BF01538211
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1995
Autor(en): Puff, W. ; Boumerzoug, M. ; Brown, J. ; Mascher, P. ; MacDonald, D. ; Simpson, P. J. ; Balogh, Adam G.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: An investigation on Point Defects in Silicon Carbide
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 14 Juni 1995
Verlag: Springer
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Physics A: Materials Science and Processing
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 61
(Heft-)Nummer: 1
DOI: 10.1007/BF01538211
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Materialanalytik
Hinterlegungsdatum: 14 Jun 2011 12:52
Letzte Änderung: 08 Apr 2020 12:56
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