Schürr, A. ; Oster, Sebastian ; Markert, Florian
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Model-Driven Software Product Line Testing: An Integrated Approach.
In: 36th International Conference on Current Trends in Theory and Practice of Computer Science.
In: Lecture Notes in Computer Science (LNCS)
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[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2009)
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
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| Erschienen: | 2009 |
| Autor(en): | Schürr, A. ; Oster, Sebastian ; Markert, Florian |
| Titel: | Model-Driven Software Product Line Testing: An Integrated Approach |
| Sprache: | Deutsch |
| Reihe: | Lecture Notes in Computer Science (LNCS) |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Echtzeitsysteme 20 Fachbereich Informatik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik |
| Veranstaltungstitel: | 36th International Conference on Current Trends in Theory and Practice of Computer Science |
| Hinterlegungsdatum: | 10 Jun 2011 08:48 |
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