Hengen, S. ; Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred ; Giehl, J. (2010)
A New Measurement Standard for Organic Thin Film Transistors.
1st Winter School of Organic Electronics.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2010 |
| Autor(en): | Hengen, S. ; Pankalla, Sebastian ; Spiehl, Dieter ; Dörsam, Edgar ; Glesner, Manfred ; Giehl, J. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A New Measurement Standard for Organic Thin Film Transistors |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2010 |
| Veranstaltungstitel: | 1st Winter School of Organic Electronics |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 16 Fachbereich Maschinenbau > Institut für Druckmaschinen und Druckverfahren (IDD) 16 Fachbereich Maschinenbau |
| Hinterlegungsdatum: | 31 Jan 2011 16:41 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:44 |
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