Ziel der in der vorliegenden Arbeit beschriebenen Experimente war die Untersuchung verschiedener Aspekte von dieletrischen Resonatoren anhand von Experimenten mit Mikrowellenresonatoren. Dielektrische Resonatoren haben aufgrund der Anwendungen von Mikrolasern und -kavitäten in der Telekommunikation, in integrierten optischen Schaltkreisen oder als Sensoren in den vergangenen Jahren großes Interesse hervorgerufen. Eine der zentralen Fragestellungen ist der Zusammenhang zwischen der Strahlen- und der Wellendynamik in diesen Systemen, entstammt also ihrer semiklassischen Beschreibung. Es wurden verschiedene semiklassische Ansätze für dielektrische Resonatoren experimentell mit Hilfe von makroskopischen, flachen dielektrischen Mikrowellenresonatoren getestet. Die Ergebnisse sind direkt auf Mikrokavitäten im infraroten und optischen Frequenzbereich übertragbar, sofern das Verhältnis der Wellenlänge zur Größe des Resonators vergleichbar ist. Sowohl quasi-zweidimensionale Aufbauten bestehend aus dielektrischen Scheiben zwischen zwei Metallplatten als auch dreidimensionale Aufbauten mit ”freischwebenden“, nur von Luft umgebenen dielektrischen Scheiben wurden untersucht. Zusätzlich zu den Frequenzspektren wurden auch Feldverteilungen gemessen. Im ersten Teil der Dissertation wurde eine zweidimensionale Näherungsmethode für dreidimensionale, flache dielektrische Resonatoren quantitativ untersucht. Dafür wurden zwei kreisförmigen Teflonscheiben verwendet. Die Näherungsmethode basiert auf einer Projektion des dreidimensionale Strahlengangs im Resonator auf die Ebene und der Einführung eines sogenannten effektiven Brechungsindexes. Diese Modellrechnungen ergeben zwar die richtige Größenordnung für gemessene Resonanzfrequenzen und -breiten, aber es verbleiben signifikante Abweichungen. Es wurde gezeigt, daß die Modellrechnungen basierend auf dem effektiven Brechungsindex zu unpräzise für ein detailliertes Verständnis von gemessenen Frequenzspektren sind. Darüber hinaus ist der systematische Fehler der Modellrechnungen nicht unter Kontrolle. Im zweiten Teil der Dissertation wurden Resonanzzustände untersucht, welche auf bestimmten periodischen Bahnen lokalisiert sind. Solche sogenannten Superscars sind für metallische Polygonbillards bekannt und wurden kürzlich auch für dielektrische vorausgesagt. Daher wurden die Feldverteilungen eines quadratischen Mikrowellenresonators aus Keramik gemessen. Die Messungen bestätigen die Existenz solcher Superscars, es wurden jedoch auch lokalisierte Zustände mit unerwarteten Eigenschaften gemessen. Da der physikalische Ursprung dieser Zustände nicht klar ist, sind weitere Untersuchungen geplant. Im dritten der Dissertation Teil wurde eine Spurformel, welche die Resonanzdichte zweidimensionaler dielektrischer Resonatoren mit den periodischen Bahnen des entsprechenden klassischen Billards verknüpft, mittels quasi-zweidimensionaler Mikrowellenresonatoren kreisförmiger und quadratischer Geometrie untersucht. Die aus den gemessenen Frequenzspektren gewonnenen Längenspektren bestätigen den Beitrag der periodischen Bahnen zur Resonanzdichte, jedoch zeigen sich auch deutliche Abweichungen gegenüber den Vorhersagen der Spurformel da nur ein Teil aller Resonanzzustände experimentell beobachtet wird. Für ein Verständnis der experimentellen Längenspektren muß daher die Systematik der beobachtbaren Resonanzen berücksichtigt werden. Darüber hinaus wurde ein Zusammenhang zwischen den langlebigsten Resonanzen des Resonators und den am stärksten im dielektrischen Billiard gebundenen periodischen Bahnen ermittelt. Im vierten Teil der Dissertation wurde die Anwendbarkeit der Spurformel für zweidimensionale dielektrische Resonatoren auf flache dreidimensionale untersucht. Eine Kombination aus der Spurformel und dem Modell eines effektiven Brechungsindexes aus dem ersten Teil der Dissertation wurde mit den Daten für zwei Kreisscheiben aus Teflon verglichen. Die vorläufigen Ergebnisse zeigen eine gute qualitative Übereinstimmung, jedoch müssen zusätzlich die Dispersion des effektiven Brechungsindexes und der systematische Fehler des Modells aus Teil eins berücksichtigt werden.